Sun創建世界上第一個大規模RFID試驗設施
2006-08-22 10:49 來源：中華印刷包裝網 責編：中華印刷包裝網
Sun Microsystes宣布已將它的RFID試驗中心和先進產品測試（APT）環境試驗室整合起來了，以滿足客戶不斷增長的需要，為客戶試驗各供應商的RFID、傳感器解決方案的互用性是否符合要求，是否達到工業標準，是否能在現實世界極端環境下使用。為了更好與Sun APT環境試驗室整合，Sun RFID試驗中心已從德克薩斯搬遷到科羅拉多，提高了在酷熱、嚴寒、沖擊、潮濕、振動、高度和壓力等不利環境條件下測試RFID和傳感器解決方案的能力。該RFID試驗中心在世界上率先將以環境為重點的大規模測試與綜合互用性和標準檢測相結合。
世界各地的公司已使用Sun RFID試驗中心模擬部署過許多RFID和傳感器系統，以檢驗解決方案的互用性以及是否符合工業技術標準要求。Sun APT實驗室的客戶除了Coors公司外，還有百事、惠普、Eeagate、Maxtor和Ball Aerospace。Sun RFID中心已為幾千個客戶進行了試驗，包括Coors、Goodyear和Clorox。
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